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PSS粒度儀技術優(yōu)勢

發(fā)布日期:2023-08-23      瀏覽次數(shù):901
  PSS粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有的 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有優(yōu)勢。
 
  技術優(yōu)勢:
 
  1、靈敏度PMT檢測器;
 
  2、可搭配不同功率光源;
 
  3、精確度高,接近樣品真實值;
 
  4、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);
 
  5、結果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);
 
  6、無需校準;
 
  7、復合型算法:
 
  (1)高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換
 
  8、模塊化設計便于維護和升級;
 
  (1)可自動稀釋模塊(選配);
 
  (2)自動進樣系統(tǒng)(選配);
 
  (3)搭配多角度檢測器(選配)。

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